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- 网址：www.njhxfxy.com
高频红外碳硫分析仪下空白试验
高频红外碳硫分析仪下空白试验
高频红外碳硫分析仪使用中我们是将锡囊置于坩埚中，将锡囊轻轻压向坩埚的底部，加入与试样等量的纯铁和加速剂。处理坩埚并测定含量。
得到空白试验读数并利用校准线换算为碳的mg数。
由空白试验中的碳含量减去纯铁中的碳含量得到空白值。
平均空白值(m1)由2个空白值计算得到。
注：⑴应用校准曲线锡囊制备
锡囊的制备：用微量移液管吸取100μl水注入锡囊)中，在90℃烘干2小时。
⑵加速剂的加入量，取决于仪器的性能和分析的材料类型。一般来说，其用量只要试样充分燃烧即可。
⑶两个空白的误差和平均空白值都不得超过0.01mg碳，如果异常高，应查明并清除污染源。
引起系统空白的因素很多，不同时期由于材料批次不同，空白值也不相同，因此在分析低含量样品前必须进行空白校正。下面我们推荐如下的测试空白方法，一般在未求校正值之前测试空白值，用同一瓶氧气，固定量的助溶剂空白值基本一致，操作方法与求校正值相同。由高频红外碳硫分析仪结果计算公式可知，为获得满意的低含量分析结果，还需注意：测试空白值所键入的重量应与实际测试样品的重量相同。来文来自：南京华欣分析仪器制造有限公司技术部 www.njhxfxy.com